一種在監(jiān)視器上目視觀察光學(xué)元件光學(xué)不均勻性的裝置該檢查裝置是一種可視化晶體板和玻璃等透明物體內(nèi)部的條紋，以及表面上的拋光不均勻和拋光痕跡的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍(lán)色濾光片的晶體板。檢查方法shadowgraph 方法，顧名思義，就是一個(gè)“陰影圖片”。從點(diǎn)光源發(fā)出的光被一個(gè)鏡頭準(zhǔn)直，被下一個(gè)鏡頭會(huì)聚，然后被拍攝。這里，如果在兩個(gè)透鏡之間放置有條紋等缺陷的樣品，平行光會(huì)受到干擾，圖像會(huì)出現(xiàn)亮度
一種在監(jiān)視器上目視觀察光學(xué)元件光學(xué)不均勻性的裝置
該檢查裝置是一種可視化晶體板和玻璃等透明物體內(nèi)部的條紋，以及表面上的拋光不均勻和拋光痕跡的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍(lán)色濾光片的晶體板。
| 檢查方法 | shadowgraph 方法，顧名思義，就是一個(gè)“陰影圖片”。從點(diǎn)光源發(fā)出的光被一個(gè)鏡頭準(zhǔn)直，被下一個(gè)鏡頭會(huì)聚，然后被拍攝。這里，如果在兩個(gè)透鏡之間放置有條紋等缺陷的樣品，平行光會(huì)受到干擾，圖像會(huì)出現(xiàn)亮度不均勻的區(qū)域。 |
|---|---|
| 觀察范圍 | 約φ45mm |
| 光源 | 高亮度藍(lán)色LED |
| 測(cè)量波長(zhǎng) | 450-465 納米 |
| 有效像素 | 1080(H)×824(V) |
| 調(diào)光功能 | 音量調(diào)光 |
| 外形尺寸（本體） | 水平（標(biāo)準(zhǔn)）W1030 x D160 x H205mm 垂直（可選）W380 x D455 x H1245mm |
| 重量（身體） | 29公斤 |
| 憲法 | 機(jī)身/PC/電纜 |
| 配件 | 樣品架/機(jī)身蓋 |
| 選項(xiàng) | 立式支架（重量：10kg） |
| 使用環(huán)境 | 10 至 35 攝氏度 濕度 20 至 80%（非冷凝） |
| 顯示器最大分辨率 | 1920 x 1200（24 英寸寬） |
| 操作系統(tǒng) | 視窗 10（64 位） |
| 軟件 | 專用軟件“ClearBack” 通過校正不均勻的圖像亮度，使背景均勻，便于檢查缺陷。 |