日本IMV艾目微絕緣劣化測試儀 高壓型HiP-1000
絕緣劣化測試儀高壓型 ( HiP-1000/2000/3000 )實時測量高壓和微弱電流I 采用1 個通道 / 1 個電源/ 1 個測量電路方法和雙結構有主動保護電纜實現高壓應用，這是IMV 的最大特點。特長■ 準確測試電流限制盡管可以施加高電壓，但是可以限制低電壓?！?防止操作不正確配備互鎖裝置，可防止高壓應用時發生操作不正確。 防止人為錯誤。■ 最多可擴展 256 通道 ( 1 個機箱 : 3
絕緣劣化測試儀
高壓型 ( HiP-1000/2000/3000 )
實時測量高壓和微弱電流
I 采用1 個通道 / 1 個電源/ 1 個測量電路方法和雙結構有主動保護電纜實現高壓應用，這是IMV 的最大特點。
特長
■ 準確測試電流限制
盡管可以施加高電壓，但是可以限制低電壓。
■ 防止操作不正確
配備互鎖裝置，可防止高壓應用時發生操作不正確。 防止人為錯誤。
■ 最多可擴展 256 通道 ( 1 個機箱 : 32 通道 )
即使是 1000 V，也可以添加高達 256 通道。
規格
| HiP-1000 | HiP-2000 | HiP-3000 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 施加電壓 | +1.0 V - +1000 V ( 1 V 単位 ) | +100 V - +2000 V ( 10 V 単位 ) | +100 V - +3000 V ( 10 V 単位 ) | |||
| 通道數 ( 每個基板 ) | 8 ch | 4 ch | 4 ch | |||
| 最多可增設通道數 | 256 ch | 32 ch | 32 ch | |||
| 絕緣電阻測量范圍 | 105Ω - 1014Ω ( 施加電壓 100 V 時 ) | |||||
| 測量電流測量范圍 | 0.1 pA - 500 μA ( 5 種測量范圍 ) * 可選擇固定范圍或者自動范圍 ( 0.1 pA - 5 nA?/ 10 pA - 500 nA?/ 100 pA - 5 μA?/ 10 nA - 50 μA?/ 100 nA - 5000 μA ) | |||||
| 測量范圍 施加 100 V 時 電流值測量精度 | 5 nA 范圍 : ±( 5 %fs +100 pA ) 500 nA 范圍 : ±( 2 %fs +5 nA ) | 5 μA 范圍 : ±( 1 %fs +10 nA ) 50 μA 范圍 : ±( 0.5 %fs +0.1 μA ) 500 μA 范圍 : ±( 0.5 %fs +1 μA ) | ||||
| 偏置電壓施加方法 | 單信道獨立偏置方式 ( 單電源供電 → 1 ch ) | |||||
| 偏置電壓設定 | +1.0 V - +1000 V ( 1 V 単位 ) | +100 V - +2000 V ( 10 V 単位 ) | +100 V - +3000 V ( 10 V 単位 ) | |||
| 偏置電壓放大器 | 遠算放大方式 輸出噪音 : 測量范圍的 0.05 % 作為高壓放大穩定電源，采用串接式高壓穩定電源 采用高壓遠算放大器，達到 100 微秒級的高速響應 | |||||
| 偏置電壓精度 | ±( 0.3 % +0.5 V ) 測量范圍的 | ±( 0.4 % +0.5 V ) 測量范圍的 | ±( 0.5 % +0.5 V ) 測量范圍的 | |||
| 偏置電壓測量精度 | ±( 0.3 % +0.5 V ) 測量范圍的 | ±( 0.4 % +0.5 V ) 測量范圍的 | ±( 0.5 % +0.5 V ) 測量范圍的 | |||
| 最長試驗時間 | 9,999 小時 | |||||
| 測量電路 | 絕緣電阻方式 : 底測電流計量 | |||||
| 電流測量電纜 | 雙重構造主動保護電纜 | |||||
| 電纜開路檢測功能 | 計量電纜連接器脫落檢測和警告 | |||||
| 收存數據內容 | 收存時間 ? 經過時間 ? 電阻值 ? 施加電壓 ? 溫度 / 濕度 ( 需要恒溫箱通信選項 ) | |||||
| 電腦 | OS : Windows 10 對應 | |||||
| 離子遷移測量模式 | 結束模式 : 在遷移發生點結束 觸發模式 : 以遷移發生閾值開始，達到結束閾值時試驗結束 時間模式 : 以遷移發生閾值和結束閾值進行發生次數的計數 ( 最多 50 次 ) | |||||
| 電源 | AC100 V?50/60 Hz?約 100 VA / 架次 | |||||
| 收納箱外形尺寸 | W430 × D550 × H635 mm ( 不含突起物 ) | |||||
| 重量 | 約 35 kg | |||||